1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمیته استانداردسازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

اندازه‌گیری ثابت دی‌الکتریک در مقیاس نانو

کلمات کلیدی : ثابت دی‌الکتریک - فیلم‌ نازک تاریخ خبر : 1388/09/03 تعداد بازدید : 3285

محققان موسسه مهندسی زیستی کاتالونیا و دانشگاه بارسلونا روشی آسان برای اندازه‌گیری ثابت دی‌الکتریک فیلم‌های نازک در مقیاس نانو توسعه داده‌اند.

نتایج همایش نهایی پروژه NanoCap

محققان موسسه مهندسی زیستی کاتالونیا و دانشگاه بارسلونا روشی آسان برای اندازه‌گیری ثابت دی‌الکتریک فیلم‌های نازک در مقیاس نانو توسعه داده‌اند. برای اجرای این روش که مبتنی بر میکروسکوپی نیروی الکتروستاتیک است، هر نوع میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) تجاری کافی بوده و به تجهیزات الکترونیکی پیچیده دیگری نیاز نیست.

اندازه‌گیری ثابت دی‌الکتریک یک فیلم نازک

با کاهش مقیاس فناوری نیمه‌رساناها و رسیدن آن به مقیاس زیر میکرونی، اندازه‌گیری دقیق ثابت دی‌الکتریک با تفکیک‌پذیری فضایی بالا اهمیت بیشتری یافته است. در زیست‌شناسی نیز علاقه روزافزونی به اندازه‌گیری این ثابت در مقیاس نانو وجود دارد. در این حوزه، ثابت دی‌الکتریک نقش مهمی در فرایندهایی همچون تشکیل پتانسیل غشایی و انتقال یون از غشا بازی می‌کند. روش‌های استاندارد تعیین مشخصات فیلم‌های نازک برای این کار مناسب نیستند، زیرا آنها محدوده وسیعی از نمونه را روبش می‌کنند.

این گروه از دانشمندان برای رفع این نیاز اطلاعاتی در مقیاس‌های بسیار کوچک‌تر، روش ساده‌ای برای اندازه‌گیری ثابت دی‌الکتریک توسعه داده‌اند که برای محدوده وسیعی از ساختارهای فیلم نازک، از مواد حالت جامد گرفته تا غشاهای زیستی قابل اجراست.

این پژوهشگران می‌توانند با استفاده از یک مدل تحلیلی دقیق، ثابت دی‌الکتریک را از اندازه‌گیری‌های نیروی الکتروستاتیک DC که توسط یک AFM تجاری به دست آمده است، استخراج کنند. این روش روی فیلم‌های نازک دی‌اکسید سیلیکون و تک‌لایه‌های غشایی بنفش آزمایش شده و کارایی آن مورد تأیید قرار گرفته است. نتایج به دست آمده از این روش با نتایج حاصل از مطالعات اخیر انجام شده توسط میکروسکوپی ظرفیت خازنی نانومقیاس (با استفاده از راهکار حسگری جریان) انطباق بسیار خوبی دارند.

این تیم پژوهشی در حال بهبود دقت اندازه‌گیری‌ها بوده و می‌خواهند استفاده از این روش را به محیط مایع نیز بسط دهند.

نتایج کار این گروه در مجله Nanotechnology منتشر شده است.