1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمیته استانداردسازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

سیستم تداخل سنج نوری، انقلابی در اندازه شناسی سطوح در مقیاس میکرو و نانو

موضوع : استاندارد و ایمنی کلمات کلیدی : اندازه ذرات - میکروسکپ نوری تاریخ خبر : 1392/05/30 تعداد بازدید : 2075

این محصول یک سیستم تداخل سنج نوری جدید برای اندازه‌گیری سریع سطح ناحیه‌ای در مقیاس نانو و میکرو است که در برابر نویز محیط ایمن است.

دانشگاه هودرسفیلد به تازگی به عنوان یکی از مراکز تحقیقات اندازه‌شناسی در سطح اروپا شناخته شده است. این دانشگاه با توجه به کارها و تحقیقات صورت گرفته دانشمندان و مهندسان مرکز ساخت و تولید نوآورانه در اندازه شناسی پیشرفته (EPSRC) به این موفقیت دست یافته است.

دکتر حسام محمد صالح به عنوان یکی از طراحان بخش ابزارسازی اندازه‌شناسی رساله دکتری خود را در این دانشگاه انجام داده و برای همین کار برنده جایزه ملی شده است. او در نظر دارد پروژه‌ای را جهت تجاری سازی محصول اختراعی خود در دانشگاه هودرسفیلد آغاز کند. دکتر محمد صالح برای نخستین بار به عنوان محقق کارشناس ارشد سیستم‌های کنترل و ابزارسازی در هودرسفیلد در این موضوع مشغول به کار گردید. اکنون پنج سال از آن زمان گذشته و او رساله دکتری خود را تمام کرده است. او همچنین جایزه شهر لندن برای سازندگان وسایل علمی را در سال 2013 به خاطر محصولی که انتظار می‌رود انقلابی در علم اندازه شناسی سطوح ایجاد کند، دریافت کرده است.

این محصول یک سیستم تداخل سنج نوری جدید برای اندازه‌گیری سریع سطح ناحیه‌ای در مقیاس نانو و میکرو است که در برابر نویز محیط ایمن است. این فرایند نوآورانه از تداخل سنجی روبشی طول موج با یک تکنیک فیلتر قابل تنظیم صوتی- نوری برای اندازه گیری سطوح با ارتفاع پله‌ای بزرگ تشکیل شده است.

این سیستم می‌تواند برای اندازه‌گیری آنلاین یا ضمن فرآیندی برای ارزیابی طیف گسترده‌ای از بافت‌های سطحی مورد استفاده قرار بگیرد. سیستم هودرسفیلد قابلیت رسیدن به دقت اندازه‌گیری در ابعاد نانومتر را حتی در مجموعه‌های تولیدی کوچک و ابتدایی دارد.


filereader.php?p1=main_cd1fb299d23be3f25
شکل . سیستم تداخل سنج نوری جدید برای اندازه‌گیری سطوح در مقیاس میکرو و نانو

دکتر محمد صالح این تحقیقات را به عنوان مبنای دکترای خود استفاده کرده است و با دکتر فنگ ژائو و پروفسور ژیانگیان جیانگ استاد برجسته دانش اندازه شناسی سطح، همکاری نموده است. این گروه، محصول مورد نظر را ثبت اختراع کرده و در حال حاضر یک شرکت بزرگ به دنبال تجاری سازی و تولید آن است.

قابل توجه است که دکتر محمد صالح در لندن متولد شده است، ولی در دانشگاه بغداد تحصیل خود را آغاز نمود. دکتر محمد صالح، پیش از آن که برای ارتقاء مدرک خود به رفتن به لندن فکر کند، کارشناسی و کارشناسی ارشد خود را در گرایش لیزر و اپتوالکترونیک از دانشگاه النهرین بغداد کسب کرد. وی می‌گوید: «من دانشگاه‌های زیادی را بررسی کردم و در میان آنها هودرسفیلد مرا جذب خود نمود.» وی می‌افزاید: «البته من با سرپرست دوره، پروفسور گری لوکاس دیدار کردم و امکانات او را مشاهده و بررسی نمودم. ولی در نهایت بسته‌های آموزشی این دوره بود که مرا متقاعد کرد به دنبال حضور در آن باشم، چرا که آنها همان چیزی بودند که من به دنبالشان بودم. من پایان نامه کارشناسی ارشدم را زیر نظر پرفسور جیانگ در زمینه طراحی یک عدسی شیئی به اتمام رساندم و بعد از آن او به من دوره دکترا را پیشنهاد داد. هدف من از آمدن به انگلستان پذیرش دکتری بود. بنابراین این پیشنهادی عالی بود.»

تحقیق کارشناسی ارشد او پشتوانه کار دکترایش شد که به طراحی کل سیستم انجامید. سیستم تکمیل شده می‌تواند سطوح را تا صدها میکرومتر اندازه‌گیری کند. همین باعث شد این دستگاه توجه زیادی را در نمایشگاه EUSPEN (انجمن اروپایی مهندسی ابزار دقیق و نانوفناوری) که  در ماه می در برلین برگزار شد، به خود جلب کند. دکتر محمد صالح رسما مدرک دکترای خود را در مراسم اهدای جوایز دانشگاهی دریافت می‌کند، ولی هودرسفیلد را ترک نخواهد کرد. زیرا به او یک بورس تحقیقاتی برای ادامه پروژه‌اش پیشنهاد شده است.