1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • مدیریت بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمینه استاندارد سازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

ساخت TEM با ولتاژ 20 تا 80 Kev برای تصویربرداری از اتم‌ها

موضوع : کسب و کار - تجهیزات کلمات کلیدی : دستگاه میکروسکوپ الکترونی عبوری - TEM - میکروسکوپ تاریخ خبر : 1395/03/01 تعداد بازدید : 1478

شرکت FEI اولین میکروسکوپ الکترونی عبوری ولتاژ پایین با قدرت تفکیک بالای خود را به دانشگاه اولم در آلمان فروخت. این میکروسکوپ با ولتاژ 20 تا 80 Kev کار می‌کند و امکان تصویربرداری با قدرت تفکیک آنگسترومی با این میکروسکوپ فراهم است.

شرکت اف‌ای‌آی (FEI) با همکاری شرکت CEOS میکروسکوپ الکترونی عبوری با ولتاژ کم و قدرت تفکیک آنگسترومی (SALVE) ساخته است. FEI اعلام کرد که اولین نمونه از این میکروسکوپ را به دانشگاه اولم در آلمان فروخته که این میکروسکوپ به زودی تحویل این دانشگاه خواهد شد.
در این میکروسکوپ از اصلاح‌کننده Cc/Cs ساخت شرکت CEOS استفاده شده است. در ساخت این اصلاح کننده از همکاری دانشگاه اولم نیز بهره گرفته شده است.
در این میکروسکوپ از ولتاژهای پایین برای ایجاد انرژی 20 تا 80 کیلو الکترون ولت استفاده شده است. این محدوده ولتاژ بسیار پایین‌تر از ولتاژ میکروسکوپ‌های TEM رایج در بازار است. این کاهش ولتاژ موجب افزایش کنتراست شده و همچنین آسیب کمتری به نمونه وارد می‌شود. معمولا در نمونه‌های لایه نازک به ویژه ترکیبات زیستی، تابش شدید الکترون موجب تخریب یا آسیب دیدن نمونه می‌شود.
در این دستگاه انحرافات نوری و کروی اصلاح شده که با این کار تصویری با قدرت تفکیک اتمی بدست می‌آید. این میکروسکوپ امکان تولید الکترون‌هایی با انرژی نزدیک به هم را دارد که این کار موجب افزایش قدرت تفکیک می‌شود. همچنین آنالیز طیف‌سنجی برای تعیین ترکیب شیمیایی و بررسی حالت‌های پیوند و ساختار الکترونیکی نمونه در این محصول انجام می‌شود.
اوته قیصر از دانشگاه اولم و رهبر پروژه SALVE می‌گوید: « ما بسیار خوشحالیم که محصول جدیدی به بازار عرضه کرده‌ایم. با این دستگاه می‌توان ساختار اتمی را با قدرت تفکیک آنگسترومی مشاهده کرد کاری که تا کنون انجام آن به دلیل آسیب دیدن نمونه به سختی انجام می‌شده است. ما معتقدیم که این دستاورد جدید مسیرهای جدیدی برای تحقیقات در حوزه مواد نوین باز می‌کند.»
برت فرایتاگ از مدیران شرکت FEI می‌گوید: « ما بدون همکاری با شرکت CEOS نمی‌توانستیم این میکروسکوپ را بسازیم. یک کار گروهی عالی موجب تولید محصولی با کارایی بالا شد. نتایج اولیه بدست آمده با این میکروسکوپ فراتر از انتظار و پیش بینی‌ها بوده است.»

مقالات آموزشی مرتبط