1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • مدیریت بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمینه استاندارد سازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

روشی جدید برای بررسی خواص پلاسمونیک و فتونیک با TEM

کلمات کلیدی : میکروسکپ الکترونی عبوری TEM - تصویربرداری از نور - مشخصه‌یابی - سیلیکون نیترید تاریخ خبر : 1395/09/03 تعداد بازدید : 828

محققان سوئیسی مرکز EPFL با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) روشی با قدرت تفکیک نانومتری برای مطالعه خواص نوری در ترکیبات پلاسمونیک و فتونیک ارائه کردند.

زمانی که نور با الکترون روی سطح جفت شود، حرکت آن همانند موج توسط شکل هندسی سطح تعیین می‌شود. در آینده پلاسمون سطحی در مخابرات و محاسبات مورد استفاده قرار می‌گیرد و روزی خواهد رسید که نور جای الکتریسیته را خواهد گرفت. درصورت تحقق این فناوری، هم مصرف انرژی کاهش می‌یابد و هم ابعاد قطعات و پردازشگرها کوچک می‌شود. این کار نیاز به ساخت حسگرهایی با قدرت تفکیک بالا و سامانه‌های پردازشی نانومقیاس دارد.
چالش موجود در این مسیر، ساخت پردازشگرهای نانومقیاس است که در آن‌ها باید لایه‌های مختلف از مواد پیشرفته را روی هم قرار داد. تاکنون چنین کاری با موفقیت انجام نشده‌است.
پژوهشگران سوئیسی در EPFL موفق به ارائه فناوری جدیدی شدند که با حل این مشکل، یک گام بلند در حوزه محاسبات هیبریدی نوری-الکترونیکی برداشته می‌شود.
این گروه روشی بسیار سریع برای رهگیری نور و الکترون، زمانی که روی سطح نانوساختارها هستند، ارائه کردند. در این پروژه که با حمایت مالی اتحادیه اروپا انجام شده، روی درک و کنترل خواص مواد در سطح اتمی تمرکز شده‌است. برای اولین بار محققان با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) روشی با قدرت تفکیک بالا برای این کار ارائه کردند.
TEM در واقع یک تلسکوپ پیشرفته برای مشاهده واقع در مقیاس فمتوثانیه‌ای بوده که قدرت تفکیک آن در حد اتمی است. با محدود کردن میدان الکترومغناطیس روی سطح یک نانوسیم منفرد و تصویربرداری از فضا و انرژی، این گروه موفق به تصویربرداری از نور شدند که طبیعت کلاسیک و کوانتومی خود را نمایش می‌دهد. در واقع در این پروژه محققان با موفقیت روی اساس امواج نوری محدود شده در مقیاس نانومتری و دستکاری نور در نانوساختارهای اپتوالکترونیکی کار کردند. با این روش می‌توان به‌صورت مستقیم نانوساختارهای پلاسمونیک و فتونیکی را مشخصه‌یابی و تصویربرداری کرد. این کار با قدرت تفکیک نانومتری و در زمان فمتوثانیه قابل انجام است.
در این پروژه از غشاء نیترید سیلیکون حاوی لایه‌ای از نقره استفاده شده‌است که روی آن‌ها نانوحفره‌هایی قرار دارد که نقش آنتن را ایفا کرده و به پلاسمونرها اجازه عبور می‌دهد.
نتایج این پروژه در قالب مقاله‌ای با عنوان"Imaging and controlling plasmonic interference fields at buried interfaces" در نشریه Nature Communications منتشر شده‌است.
مقالات آموزشی مرتبط