1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • مدیریت بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمینه استاندارد سازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

همکاری مشترک برای توسعه میکروسکوپ AFM

موضوع : کسب و کار - تجهیزات - محاسبات کلمات کلیدی : AFM - ابزار نانومکانیکی - ساخت میکروسکوپ AFM - شرکت JPK تاریخ خبر : 1396/01/24 تعداد بازدید : 160

دو شرکت انگلیسی و آلمانی با همکاری یکدیگر اقدام به توسعه میکروسکوپ AFM برای مشخصه‌یابی بهتر مواد در مقیاس‌ نانومتری کرده‌اند.

شرکت دبن (Deben) با همکاری شرکت جی‌پی‌کی اینسترومنت (JPK Instruments) اقدام به ارائه استیج ویژه‌ای برای استفاده در AFM کرده است. دبن یک شرکت انگلیسی بوده که روی ساخت لوازم جانبی برای تجهیزات میکروسکوپی فعالیت می‌کند. جی‌پی‌کی نیز یک شرکت آلمانی بوده که میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) برای استفاده در حوزه‌های مختلف تولید می‌کند.
تورستن مولر، از اعضاء تیم توسعه شرکت جی‌پی‌کی است. مولر و همکارانش به دنبال ارتقاء میکروسکوپ‌های AFM این شرکت بوده تا نیاز جامعه علمی را برآورده سازد. محصول اصلی این شرکت پلفت فورم AFM موسوم به NanoWizard است که می‌توان از آن برای مطالعه خواص مکانیکی مواد در مقیاس نانو استفاده کرد. برای مثال می‌توان از این دستگاه برای مقایسه مدول یانگ موادی نظیر هیدروژل، کامپوزیت‌ها و پروتئین‌هایی نظیر کلاژن استفاده کرد. برای چنین کاری نیاز به یک ابزار کششی بوده که بتواند درون دستگاه AFM قرار گیرد و مطالعات توپوگرافی و نانومکانیکی را در نمونه‌ها انجام دهد.
مولر درباره این که چرا استیج کششی شرکت دبن برای استفاده در AFM جی‌پی‌کی انتخاب شده می‌گوید: « ما به چند دلیل به سراغ شرکت دبن رفتیم. اول این که این شرکت اجازه می‌داد تا ما از سامانه روبشی AFM خودمان استفاده کنیم. دوم این که این شرکت فناوری کشش دو جهتی را در اختیار ما قرار می‌دهد به این معنا که مرکز نمونه نسبت به محور اپتیکی ثابت باقی می‌ماند و کانتالیور AFM تنظیم می‌شود. ما دریافتیم که ارتفاع و ابعاد این استیج به ما اجازه می‌دهد تا ما آن را هم در سیستم AFM تنها و هم در دستگاهی که میکروسکوپ نوری روی آن سوار است، استفاده کنیم.»
مسئولان شرکت JPK دریافتند که استیج شرکت دبن امکان تصویربرداری موفق در مودهای مختلف نظیر طیف‌سنجی نیرو، نقشه‌برداری نیرو و نقشه برداری کمی را فراهم می‌کند. این استیج جدید امکان مشخصه‌یابی مواد مختلف را در مقیاس نانومتری ایجاد می‌کند.

مقالات آموزشی مرتبط