1
ستاد ویژه توسعه فناوری نانو Iran Nanotechnology Initiative Council بستن
  • ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

  • مدیریت بانک اطلاعات شاخص های فناوری نانو

  • سایت جشنواره فناوری نانو

  • سیستم جامع آموزش فناوری نانو

  • شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو

  • موسسه خدمات فناوری تا بازار

  • کمینه استاندارد سازی فناوری نانو

  • پایگاه اشتغال فناوری نانو

  • کمیته نانو فناوری وزارت بهداشت

  • جشنواره برترین ها

  • مجمع بین المللی اقتصاد نانو

  • اکو نانو

  • پایگاه اطلاع رسانی محصولات فناوری نانو ایران

  • شبکه ایمنی نانو

  • همایش ایمنی در نانو

  • گالری چند رسانه ای نانو

  • تجهیزات فناوری نانو

  • صنعت و بازار

  • باشگاه نانو

دستکاری سطح با نوک عامل‌دار شده میکروسکوپ AFM

موضوع : علم و پژوهش کلمات کلیدی : میکروسکپ نیروی اتمی AFM - مشخصه‌یابی - عامل‌دار کردن تاریخ خبر : 1396/05/09 تعداد بازدید : 237

محققان با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و عامل‌دار کردن نوک این میکروسکوپ اقدام به دستکاری اتم‌های سطح کردند. برای این کار نوک با استفاده از اتم منفرد هیدروژن عامل‌دار شده و روی سطح کشیده می‌شود.

محققان نشان دادند که با استفاده از حسگر میکروسکوپ نیروی اتمی می‌توان اتم منفرد هیدروژن را به‌صورت عمودی دستکاری کرد. از این ابزار می‌توان برای مشخصه‌یابی و مهندسی ساختار پیوندها در ادوات نانوالکترونیکی استفاده کرد.
filereader.php?p1=main_7fc56270e7a70fa81

محققان این پروژه نشان دادند که نوک میکروسکوپ AFM می‌تواند روی سطح حرکت کرده و پیوند Si-H را تحت تأثیر قرار دهد. با این کار یک اتم هیدروژن جذب شده و می‌توان آن را روی نقطه دیگر قرار داد.
این گروه تحقیقاتی از نوک دارای اتم منفرد هیدروژن برای این کار استفاده کردند. با نزدیک‌ کردن نوک عامل‌دار به سطح و در فقدان بایاس یا جریان، یک پیوند کووالانسی میان اتم سیلیکون و هیدروژن شکل می‌گیرد.
با استفاده از منحنی (Δfz) ‌و تصاویر گرفته شده از سطح، محققان تأیید کردند که واکنش مورد نظر اتفاق افتاده است. محققان این پروژه در مقاله خود نوشته‌اند: «بسیار واضح است که نوک دارای گروه عاملی برای مشخصه‌یابی قابل استفاده است. این نوک می‌تواند به‌صورت مؤثری مولکول جذب شده روی سطح فلز را مشخصه‌یابی کند. البته برای سیستم‌های مختلف باید از نوک‌های مناسب و مرتبط به همان سیستم‌ها استفاده نمود. چگونگی آماده‌سازی و شناسایی چنین‌ نوک‌هایی در این پروژه به تفصیل توضیح داده شده‌است. نوک‌های دارای عامل هیدروژن می‌توانند برای تعیین مشخصات و تغییر ساختار پیوندی یک سطح مورد استفاده قرار گیرند. برای این کار به‌صورت انتخابی یک مولکول از روی سطح سیلیکون برداشته می‌شود.
علاوه بر میکروسکوپ AFM، در این پروژه از میکروسکوپ STM نیز برای تصویربرداری و بررسی سطح استفاده شده‌است. نتایج این پروژه در قالب مقاله‌ای با عنوان در نشریه Atomic White-Out: Enabling Atomic Circuitry through Mechanically Induced Bonding of Single Hydrogen Atoms to a Silicon Surface منتشر ACS Nano شده‌است.
مقالات آموزشی مرتبط