روش‌هایی همانند میکروسکوپ نیروی اتمی، تصاویری با کیفیت بالا از سطح مواد را ایجاد می‌کنند که توانایی آن در بررسی بسیار دقیق زیرسطحی مواد بیشتر می‌باشد. محققان دانشگاه Northwestern آمریکا توسط روش ایجاد هولوگرافی مافوق صوت ناحیه نزدیک پیمایشی (SNFUH) شاهد پیشرفت دراین زمینه بوده‌اند. این شیوه می‌تواند لایه‌های زیرین نانوساختارها را با کیفیت ۱۰۰-۱۰ نانومتر تصویربرداری کند.
