سومین جلسه کارگروه WG2 کمیته استانداردسازی فناوری نانو ایران (ISIRI/TC229) برگزار شد

جلسه سوم کارگروه WG2 (اندازه‌گیری و تعیین مشخصات) کمیته استانداردسازی فناوری نانو با حضور اعضای این کارگروه در محل دبیرخانه ستاد ویژه توسعه فناوری نانو تشکیل شد.

جلسه سوم کارگروه WG2 (اندازه‌گیری و تعیین مشخصات) کمیته
استانداردسازی فناوری نانو با حضور اعضای این کارگروه در محل دبیرخانه ستاد
ویژه توسعه فناوری نانو تشکیل شد. در این جلسه دو طرح جدید ارایه شده از
طرف ژاپن به عنوان NWIP (New Work Item Proposal) که توسط کمیته بینالمللی
استانداردسازی فناوری نانو (ISO/TC229) برای ارائه نظرات تخصصی به کشورهای
عضو فعال این کمیته ارسال شده بود مورد بررسی قرار گرفتند.
موضوع این دو سند تعیین مشخصات نانولوله‌های کربنی تک دیواره با استفاده از
تکنیک‌ طیف سنجی جذبی UV-Vis-NIR و تکنیک طیف سنجی NIR-PL است. در این جلسه
پس از بحث و بررسی این دو سند توسط اعضای کارگروه برخی ایرادات ویرایشی و
تکنیکی مشخص شد و در نهایت این دو طرح در جلسه پذیرفته شدند و نتیجه رأی
گیری و نظرات تخصصی در مورد دو سند به عنوان نظر ایران، برای ثبت در سازمان
ISO به کمیته ISO/TC229 ارسال شد.