بیشتر فناوری‌های جدید، از علم مواد تا توسعه مدارهای مجتمع، رویکرد خود را از مقیاس میکرو به نانو تغییر داده‌اند. در این کتاب روی مبانی اساسی فیزیک فناوری‌های ابداعی برای آنالیز سطح و نزدیک سطح، آنالیز ساختار و ترکیب شیمیایی سطح تمرکز شده‌است و روش‌‌های مشخصه‌یابی تعیین کمیت ساختار، ترکیب و توزیع عمقی مواد با استفاده از ذرات و فوتون‌های دارای انرژی، شرح شده‌است. همچنین مبانی مشخصه‌یابی مواد نانوساختار، از نقطه‌نظر ذرات و فوتون‌های فرودی مورد بررسی قرار گرفته‌است.
معرفی کتاب_مبانی آنالیز فیلم در مقیاس نانو
|
عنوان: Fundamentals of Nanoscale Film Analysis نویسنده (گان) : Terry L Alford, L. C. Feldman, James W. Mayer شماره شابک: ۰۳۸۷۲۹۲۶۰۸ تعداد صفحات: ۳۳۰ تاریخ انتشار: ۲۰۰۷ انتشارات: Springer قیمت: ۸۹/۹۵ دلار |
|
| بیشتر فناوری‌های جدید، از علم مواد تا توسعه مدارهای مجتمع، رویکرد خود را از مقیاس میکرو به نانو تغییر داده‌اند. در این کتاب روی مبانی اساسی فیزیک فناوری‌های ابداعی برای آنالیز سطح و نزدیک سطح، آنالیز ساختار و ترکیب شیمیایی سطح تمرکز شده‌است و روش‌‌های مشخصه‌یابی تعیین کمیت ساختار، ترکیب و توزیع عمقی مواد با استفاده از ذرات و فوتون‌های دارای انرژی، شرح شده‌است. همچنین مبانی مشخصه‌یابی مواد نانوساختار، از نقطه‌نظر ذرات و فوتون‌های فرودی مورد بررسی قرار گرفته‌است. واکنش‌های اعمال‌شده از سوی فوتون یا ذرات فرودی منجر به انتشار ذرات یا فوتون‌های گوناگون قابل تشخیص می‌گردد و انرژی و دانسیته بیم‌های گسیل‌شده قابل تشخیص، مبانی مشخصه‌یابی مواد را تشکیل می‌دهد. تکنیک‌های آزمایشگاهی استفاده‌شده در آنالیز مواد نانومقیاس، محدوده وسیعی از ذرات فرودی و بیم‌های واکنش‌داده قابل تشخیص را پوشش می‌دهد. بعضی از فعل و انفعالات مهمی که می‌تواند در برخورد ذرات یا فوتون‌های فرودی با نمونه رخ دهد، عبارتند از: برخوردهای اتمی، پراکندگی به عقب (backscattering) رادرفورد، کانال‌زنی یونی، پراش، جذب فوتون، تحول‌های تشعشعی یا غیر تشعشعی و واکنش‌های هسته‌ای. همچنین جزئیات روش‌‌های مختلف تحلیلی و میکروسکوپ روبشی در این کتاب موجود است. |
