تحقیقاتی که روی خواص مواد در انستیتو ملی استانداردها و فناوری، با همکاری شرکت IBM و موسسه تحقیقاتی ماساچوست انجام شده، نشان می‌دهد که اندازه‌گیری خواص لایه‌های نازک به سمت لبه‌های یک لایه نازک سوق داده شده است. این تحقیقات جهت تولید اولین داده‌هایی که چگونگی تأثیر لبه لایه‌های نازک روی خواص مغناطیسی را بیان می‌کند، انجام شده‌اند. نتایج کار این گروه تحقیقاتی ممکن است روی طراحی قطعات الکترونیکی نانومقیاس آینده تأثیرگذار باشد.
اندازه‌گیری خواص مغناطیسی لبه‌های یک لایه نازک
|
تحقیقاتی که روی خواص مواد در انستیتو ملی استانداردها و فناوری، با همکاری شرکت این تحقیقات جهت تولید اولین داده‌هایی که چگونگی تأثیر لبه لایه‌های نازک روی خواص لایه‌های نازک فرومغناطیس مواد مغذی – با ضخامت‌هایی بین کسری از نانومتر تا چندین در هر زمان روش‌های متفاوتی جهت اندازه گیری خواص مغناطیسی مواد وجود دارند. در حال یک تیم تحقیقاتی از NIST، IBM و MIT اخیراً یک روش طیف‌سنجی جهت اندازه گیری خواص در این روش محققان از پرتو موج میکرونی با فرکانس‌های مختلف روی لبه‌ها برای اندازه در اولین آزمایشات، این روش جدید، جهت اندازه‌گیری اینکه چگونه خواص مغناطیسی لبه |
