نخستین روش غیر مخرب برای کشف نواقص نانومتری زیر سطح

گروه تحقیقات نیمه‌رسانا (SRC )، به‌عنوان
یک گروه پیشگام تحقیقات دانشگاهی در زمینه‌ی نیمه‌رساناها و فناوری‌های مربوط به
آن، با همکاری دانشگاه نورث وسترن از کاربرد موفقیت‌آمیز یک روش هولوگرافی مافوق
صوتی منحصربه‌فرد خبر داده‌اند که به کمک آن می‌توان ریزترین ساختارهای پنهان ماده
را هم مشاهده نمود. اطلاعات سه‌بعدی به دست‌آمده از این طریق منجر به بازدهی بهتر
محصولات نیمه‌رسانا شده، مزایای بسیار زیاد دیگری را  نیز برای
تولیدکنندگان این قبیل محصولات به ارمغان خواهد آورد. همچنین از این روش می‌توان در
تشخیص بهتر و درمان  مناسبت‌تر بیماری‌ها کمک گرفت.

این محققان برای نخستین بار در یک روش غیر مخرب و مبتکرانه،
توانستند با ترکیب میکروسکوپ پروب روبشی (SPM)، فناوری‌های
مافوق صوت و هولوگرافی و آشکارسازی ذرات زیر سطحی (با ابعاد ۱۵ الی ۲۰ نانومتر)،
اطلاعات ارزشمندی را به ‌دست آورند که تا قبل از این جز با روش‌های مخربی از قبیل
برش زدن و تکه کردن نمونه (که موجب تغییر ترکیب و ساختار آن می‌شد) امکان‌پذیر
نبود. با این روش (که تمامی مزایای هر سه فناوری را یک‌جا در خود جمع کرده‌است)
می‌توان اطلاعات ارزشمندی را از الگوها و ساختارهای پنهان ماده، به‌ویژه نواقص
ساختاری نانومتری (که شناخت آن اهمیت بسیار زیادی در میکروالکترونیک دارد) به‌دست
آورد.

استفاده از این فناوری جدید به‌عنوان ابزاری برای کنترل کیفیت
در صنایع میکروالکترونیک و سیستمهای نانوالکترومکانیکی (NEMS)،
موجب افزایش بهره‌وری و بهبود عملکرد محصولات تولیدی می‌شود، همچنین از آن با توجه
به ویژگی غیر مخرب بودنش می‌توان در صنایع داروسازی هم استفاده نمود و چگونگی توزیع
دارو، تجمع و پاک شدن آن از نقاط مختلف بدن را بهتر بررسی کرد. در بخش زیست‌پزشکی و
دارورسانی نیز می‌توان با استفاده از آن به پایش اتفاقاتی پرداخت که در سطح سلولی
روی می‌دهد و درک بهتری از چگونگی توزیع زیستی داروهای جدید، برهم کنش نانوذرات و
سلول‌ها، و فرایندهای دارورسانی به‌دست آورده و حتی می‌توان به اثرات ناخواسته‌ی
زیست‌محیطی آنها نیز پی برد.

دانشمندان در مراحل بعدی توسعه‌ی این فناوری سعی دارند به
یکپارچه‌سازی سیستم، چگونگی کار با ماده، امکان روبش سریع‌تر همراه با ورودی بالا
بپردازند. این دانشمندان هم‌اکنون با راه‌اندازی شرکت NanoSonix Inc.
(شرکتی نوپا در حوزه‌ی فناوری‌های پیشرفته که برای توسعه‌ی مجموعه‌ی نانوابزارهای
تصویربرداری با قابلیت محاسبه و ارزیابی سریع نواقص زیر سطح فعالیت می‌کند) سعی در
تجاری‌سازی این روش نموده‌اند.