سرفصل‌های آزمون تئوری تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو

سرفصل‌های آزمون تئوری مسابقه تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو در پایگاه اینترنتی ستاد توسعه فناوری نانو اعلام شد. آزمون تئوری تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو شامل دو بخش است که عناوین و سرفصل‌های هر بخش به تفکیک عبارتند از:

سرفصل‌های آزمون تئوری تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو

سرفصل‌های آزمون تئوری مسابقه تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو در پایگاه اینترنتی ستاد توسعه فناوری نانو اعلام شد. مسابقه تجهیزات‌شناسایی و میکروسکوپی به‌وسیله‌ ستاد توسعه فناوری نانو با همکاری کارگروه ترویج و آموزش عمومی و شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو با هدف ارزیابی میزان آشنایی دانشجویان و پژوهشگران با مفاهیم پایه فناوری نانو و تجهیزات آنالیز و‌ شناسایی مورد استفاده در تحقیقات این فناوری، در دو مرحله‏ تئوری و عملی در اردیبهشت و شهریور سال آینده برگزار خواهد شد.

 

آزمون تئوری تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو شامل دو بخش است که عناوین و سرفصل‌های هر بخش به تفکیک عبارتند از:

بخش اول: آشنایی کلی با فناوری نانو

  • آشنایی با مفاهیم ساختار مواد؛
  • مقیاس؛
  • اثرات اندازه بر خواص؛
  • مفاهیم کوانتوم؛
  • مفاهیم فیزیک حالت جامد.

بخش دوم: تجهیزات‌شناسایی در فناوری نانو

الف) تعریف:

• دسته‌بندی تجهیزات‌شناسایی‌ و تعیین مشخصات

• روش‌های متداول‌شناسایی‌ و تعیین مشخصات شامل روش‌های میکروسکوپی، روش‌هایی براساس پراش، روش‌های طیف سنجی موجی، روش‌های طیف سنجی جرمی، روش‌های جداسازی

ب) تجهیزات

 ۱٫ میکروسکوپ‌های الکترونی

• میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) معرفی ساختار و سازوکار عمل؛ کاربردها، امکانات و توانایی‌ها ؛ نمونه‌های مورد استفاده در دستگاه

• میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) معرفی ساختار و سازکار عمل؛ کاربردها، امکانات و توانایی‌ها ؛ نمونه‌های مورد استفاده در دستگاه

 ۲٫ میکروسکوپ‌های پروب روبشی (SPM)

 • معرفی کلی خانواده SPM

• میکروسکوپ تونلزنی روبشی (STM) معرفی ساختار و سازکار عمل؛ کاربردها، امکانات و توانایی ها؛ معرفی ساختار و سازکار عمل؛ کاربردها، امکانات و توانایی‌ها ؛ وضعیت‌های کاری جریان ثابت و ارتفاع ثابت؛ نمونه‌های مورد استفاده در دستگاه

• میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) معرفی ساختار سازوکار عمل؛ کاربردها، امکانات و توانایی‌ها ؛ وضعیت‌های کاری تماسی و غیر تماسی؛ نمونه‌های مورد استفاده در دستگاه

۳٫ طیف سنجی با پرتو ایکس

• آشنایی با اشعه ایکس و معرفی کلی دستگاه‌هایی که با پرتو ایکس کار می‌کنند

• طیف سنج پراش پرتو ایکس (XRD) آشنایی با پدیده پراش؛ معرفی و سازوکار عمل دستگاه؛ قابلیت‌ها، مزایا و کاربردهای دستگاه

• طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس (XRF) معرفی و سازوکار عمل دستگاه؛ قابلیت‌ها، مزیت‌ها و کاربردهای دستگاه

۴٫ کروماتوگرافی

• آشنایی با کروماتوگرافی

• کروماتوگرافی گازی (GC) آشنایی با روش کروماتوگرافی گازی؛ سازوکار عمل دستگاه GC؛ قابلیت و کاربردهای دستگاه GC

• کروماتوگرافی مایع با کارایی بالا (HPLC) آشنایی با روش کروماتوگرافی مایع؛ سازکار عمل دستگاه HPLC؛ قابلیت‌ها و کاربردهای دستگاه HPLC

۵٫ طیف سنجی جرمی (MS)

• آشنایی با روش طیف سنجی جرمی

• آشنایی با سازوکار عمل دستگاه MS و انواع آن

• قابلیت‌ها و کاربردهای دستگاه MSd. توانایی اضافه شدن دستگاه MS به سایر دستگاه، به ویژه GC

۶٫ سنجش اندازه ذرات

• معرفی روش‌های مختلف تعیین اندازه ذره

• آشنایی با قابلیت‌ها، امکانات و کاربردهای دستگاه‌های DLS، LLS و PSA

 

علاقمندان فرصت دارند تا روز ۱۵ اسفند سال جاری نسبت به ثبت نام در مسابقه اقدام کنند. اطلاعات تکمیلی در خصوص مسابقه و شرایط و چگونگی ثبت نام در پایگاه اینترنتی www.nano.ir/Competition قابل دسترسی است.