همایش بین‌المللی پیشگامان اندازه‌گیری و مترولوژی نانوالکترونیک

همایش بین‌المللی پیشگامان اندازه‌گیری و مترولوژی
نانوالکترونیک ۲۰۱۱ (IC-FCMN 2011)، در روزهای ۲۳ تا ۲۶ ماه می سال جاری
میلادی (۲ تا ۵ خرداد ۱۳۹۰) در مرکز بین‌المللی میکرو و فناوری‌نانوی
(MINATEC) شهر گرینوبل فرانسه برگزار خواهد شد.

در هشتمین همایش سالانه‌ی پیشگامان اندازه‌گیری و مترولوژی
نانوالکترونیک،که برای اولین بار خارج از ایالات متحده آمریکا برگزار خواهد
شد، شرکت‌کنندگانی از اقصی نقاط دنیا، آخرین پیشرفت‌های حوزه تعیین مشخصات
و مترولوژی‌ای که آینده انقلاب نانوالکترونیک را تعیین خواهد داد، شرکت
می‌کنند.

IC-FCMN 2011 بستر مناسبی فراهم می‌شود تا بین متخصصان و کارشناسان
مترولوژی، تعیین مشخصات، استفاده کنندگان صنعت و آزمایشگاه‌های تحقیق و
توسعه تعامل برقرار شده و همکاری‌های تحقیقاتی بین آنها توسعه یابد.

با فراهم شدن فرصت همکاری‌های لازم برای شرکت کنندگان در این همایش، آنها
می‌توانند تمایلات و نتایج تحقیقات خود را به اشتراک گذاشته و همکاری‌های
تحقیقاتی جدید تسهیل می‌شود.

همایش مذکور با حمایت موسسه ملی استاندارد و فناوری، دانشکده مهندسی و علوم
نانومقیاس آلبانی، CEA-LETI، شرکت تحقیقاتی نیمه‌هادی‌ها (SRC)، پیشگامی
تولیدی بین‌المللی (SEMATECH (ISMI، بنیاد ملی علوم، انجمن فیزیک آمریکا
(APS) و انجمن ادوات الکترون IEEE برگزار خواهد شد.