تعیین ضخامت ورقه‌های گرافن در ابعاد نانومتری کاری بسیار دشوار است. اخیرا پژوهشگران انگلیسی با استفاده از میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) توانسته‌اند به این مهم دست یابند. میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) یکی از روش‌های SPM محسوب می‌شود.
مشاهده ضخامت گرافن با استفاده از میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک
تعیین ضخامت ورقه‌های گرافن در ابعاد نانومتری کاری بسیار دشوار است. اخیرا پژوهشگران انگلیسی با استفاده از میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) توانسته‌اند به این مهم دست یابند. میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) یکی از روش‌های SPM محسوب می‌شود.
پژوهشگران آزمایشگاه ملی انگلستان با همکاری دانشگاه لینکوپینگ در سوئد، ثابت کردند که با استفاده از میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM) می‌توان در شرایط محیطی ضخامت بخش‌های مختلف گرافن را به‌سادگی مشخص کرد.
با استفاده از یک یا دو لایه ورقه گرافن در یک ماده‌ای، می‌توان ازخواص بسیار جالب گرافن در آن ماده بهره‌مند شد.
از آنجایی که می‌توان این ورقه‌ها را با تعداد لایه‌های مختلف سنتز کرد بنابراین خواص این چند لایه‌ها بسیار شبیه خواص گرافیت توده‌ای است.
برای استفاده از گرافن در دستگاه‌ها، باید از یک یا دو لایه گرافن استفاده کرد به شکلی که قسمت‌های ضخامت این لایه‌ها از بستر قابل تفکیک باشد. محصول متورق کردن گرافن با ضخامت‌های تقریبا ۱۰۰ میکرومتر با استفاده از میکروسکوپ نوری قابل مشاهده است. کار زمانی دشوار می شود که گرافن اپیتاکسیال روی ویفر کاربید سیلیکون به قطر ۵ اینچ رشد داده شود که در این حالت تشخیص ضخامت گرافن با استفاده از روش‌های استاندارد بسیار مشکل خواهد شد. این تحقیقات نشان داد که EFM ، که روش ساده و قابل دسترسی در میکروسکوپ‌های SPM است، می‌تواند ضخامت گرافن را به راحتی نشان دهد این روش که در محیط‌های معمولی قابل انجام است، می‌تواند نیازهای صنعت را نیز برآورده سازد.
نتایج این تحقیق در نشریه Nano Letters به چاپ رسیده است.
