گروهی از محققان آمریکایی ابزار تشخیصی جدیدی با عنوان طیف‌سنجی مادون قرمز مبتنی بر میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM-IR) ارائه داده‌اند که می‌تواند از فناوری‌های پیشرفته نانوتولید حمایت کند.
بهبود فناوری‌های نانوتولید با استفاده از طیف‌سنجی مادون قرمز
| شناسایی مواد مبتنی بر فناوری نانو امکان آنالیز شیمیایی نانوتولید را که بسیار ضروری است، فراهم می‌آورد. یکی از دست‌آوردهای کلیدی عصر نانوفناوری، توسعه فناوری‌های تولید است که با وجودی که جهش‌های زیادی در حوزه نانوتولید حاصل شده است، پیشرفت‌های حال محققان دانشگاه ایلینویز و شرکت Anasys Instruments ابزار تشخیصی جدیدی ویلیام کینگ، استاد دانشکده علوم و مهندسی مکانیک می‌گوید: «ما از طیف‌سنجی در روش AFM-IR، یک لیزر مادون قرمز پالسی سریع روی یک نمونه بسیار نازک
|
 |
| کریگ پراتر، مدیر ارشد بخش فناوری شرکت Anasys Instruments و یکی دیگر از محققان این کار می‌گوید: «با وجودی که متخصصان نانوفناوری علاقه‌مند به تولید نانوساختارهای یکپارچه و ادغام‌شده هستند، اما فقدان ابزارهای مناسب برای شناسایی ترکیب این ساختارها در مقیاس نانو، کار آنها را محدود کرده است. قابلیت منحصر به‌فرد روش AFM-IR، تهیه هم‌زمان نقشه‌های نانومقیاس مورفولوژیکی و انجام آنالیز شیمیایی در مقیاس نانومتری است». هزینه این تحقیق توسط آژانس پروژه‌های تحقیقات دفاعی پیشرفته، دفتر تحقیقات “Nanometer-Scale Infrared Spectroscopy of Heterogeneous Polymer در مجله ACS Nano منتشر شده است.
|
