ابزاری برای تصویربرداری سه بعدی از نقص‌های نانومقیاس

شرکت زایس (ZEISS) ابزار جدیدی برای میکروسکوپ اشعه ایکس سه بعدی خود ساخته است که با استفاده از آن می‌توان نقص‌های ساختاری نانومقیاس نمونه را به صورت سه بعدی تصویربرداری کرد.

شرکت زایس (ZEISS) اعلام کرد که ابزار جدیدی برای میکروسکوپ اشعه ایکس سه بعدی (XRM) خود ساخته است که با استفاده از آن می‌توان آزمون‌های نانومکانیکی نظیر کشش و تنش را به صورت غیرتخریبی روی نمونه‌ها انجام داد. این اولین باری است که محققان می‌توانند تصویر سه بعدی با قدرت تفکیک کمتر از ۵۰ نانومتر تهیه کنند.
این ابزار که به Xradia Ultra Load Stage شهرت دارد به محققان این امکان را می‌دهد که ویژگی‌های ساختاری نظیر ترک‌ها و حفره‌های نانومقیاس را در نمونه مشاهده کنند. با این ابزار جدید میکروسکوپ، می‌توان به توسعه قابلیت‌های جدید مواد پرداخت و در نهایت موادی سبک‌ترو مستحکم‌تر برای ساخت بال هواپیما، سیمان ساختمانی و مواد زیست‌پزشکی تولید کرد.
محققان دانشگاه منچستر با استفاده از این میکروسکوپ موفق به تصویربرداری سه بعدی از رشد ترک‌ها شده‌اند و با این کار نشان دادند که چگونه ترک‌ دندانه‌های موجود در نانوکامپوزیت شکل می‌گیرد.
فیلیپ ویترز از محققان آزمایشگاه تصویربرداری اشعه ایکس منچستر می‌گوید: «انجام آزمون نانومکانیکی با این میکروسکوپ، ما را قادر می سازد تا تصویر نانومقیاس سه بعدی از مواد بگیریم. این اولین باری است که ما می‌توانیم تصویر سه بعدی با کنتراست فازی از نمونه بگیریم تا هسته‌زایی و رشد نقص‌های و ترک‌ها در مواد نانوساختار سنتزی را مطالعه کنیم.»
آزمایشگاه ملی لوس آلموس در حال حاضر روی مواد مختلف نظیر میکروکره‌های شیشه‌ای، فوم‌ها، آلیاژهای فلزی و میکروبلورهای منفرد کار می‌کند. یک تیم تحقیقاتی از این آزمایشگاه با استفاده از این ابزار موفق به مطالعه بهتر آسیب‌های ساختاری شده و درک بهتری از چگونگی اثر این نقص‌ها روی پاسخ مکانیکی بدست آورده است.
گروه کسب و کار میکروسکوپی شرکت زایس بزرگترین تولیدکننده میکروسکوپ‌های نوری، اشعه ایکس و الکترونی در جهان است. این گروه در ۳۳ کشور جهان نمایندگی فروش دارد و دفتر مرکزی آن در جنای آلمان قرار دارد.