شرکت آکسفورد اخیراً بسته آموزشی در حوزه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ارائه کرده است که در آن روش‌های استاندارد و رایج مورد استفاده در این دستگاه تشریح شده است.
ارائه بسته آموزشی AFM توسط شرکت اکسفورد
شرکت اکسفورد اینسترومنت اسایلوم ریسرچ (Oxford Instruments Asylum Research) اخیراً بسته آموزشی با عنوان The NanomechPro™ Toolkit: Nanomechanical AFM Techniques for Diverse Materials که توسط دونا هرلی نوشته شده را منتشر کرده است.
طی سال‌های اخیر، روش‌های مختلفی برای اندازه گیری خواص مکانیکی در مقیاس نانو ارائه شده است. اسایلوم ریسرچ در خط مقدم این جبهه است و روی بهبود این روش‌ها تحقیق می‌کند. NanomechPro™ Toolkit کلکسیونی از روش‌های جدید است که می‌تواند با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) به بررسی خواص الاستیک و هم ویسکوزیته نمونه‌ها بپردازد. در این بسته آموزشی، ساز و کار روش‌ها و همچنین مزایا و معایب هر روش به تفصیل بیان شده است.
هرلی می‌گوید: «روش‌های تعیین مشخصات نانومکانیکی AFM نمی‌تواند برای تمام نمونه‌ها به کار گرفته شود. بنابراین برای هر نوع نیازی، روشی ارائه شده که مزایای خود را دارد. این بسته می‌تواند اطلاعات تکمیلی درباره این روش‌ها را ارائه دهد.»
مارتا کوکن، از محققان اسایلم ریسرچ، می‌گوید: «من از این که فرصتی منحصر به فرد برای بهبود روش‌های نانومکانیکی ایجاد شده خوشحالم. معمولاً برای نمونه‌های مختلف، لوازم جانبی متفاوتی وجود دارد که من برحسب نیاز از آن‌ها استفاده می‌کردم. گاهی به دلیل وجود محدودیت‌های ابزاری موفق به انجام کار مورد نظر خود نمی‌شدم.»
در این بسته آموزشی، هم روش‌های استاندارد و هم روش‌هایی مختلف انتخابی بیان شده است. روش‌های استاندارد شامل منحنی نیرو، نقشه حجم نیرو، تصویر فاز، تصویربرداری Bimidal Dual و نقشه Loss Tangent است.
