در دومین روز برگزاری نهمین جشنواره فناوری نانو دوعنوان کارگاه آموزشی دستگاهی و یک کارگاه با موضوع ثبت علائم تجاری برگزار شد.
برگزاری سه کارگاه آموزشی در دومین روز Irannano2016
در نخستین کارگاه با عنوان«معرفی میکروسکوپ الکترونی «SEM » مهندس اکبری مدرس کارگاه به تشریح مواردی چون؛
• تعریف میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ،
• نحوه عملکرد آن و انواع مختلف میکروسکوپ الکترونی (FESEM & SEM)
• بررسی اجزای اصلی سازنده دستگاه SEM و وظیفه هرکدام؛
• آشنایی با دیتکتورها (CL,EBSD,BSD,SE ) و نحوه عملکرد آنها؛
• آشنایی با پارامترهای موثر تصویربرداری مناسب و انتخاب پارامتر مناسب با توجه به شرایط نمونه؛
• آماده سازی نمونه‌های مختلف و انواع روش‌های پوشش‌دهی؛
• بررسی و تحلیل تصاویر SEM و EDS.
پرداخت. لازم به ذکر است، میکروسکوپ الکترونی روبشی که به آن Scanning Elecron Microscope ، یا به اختصار SEM گویند یکی از ابزارهای مورد استفاده در فناوری نانو است که با کمک بمباران الکترونی تصاویر اجسامی به کوچکی ۱۰ نانومتر را برای مطالعه تهیه می‌کند. بمباران نمونه سبب می‌شود تا الکترون‌هایی از نمونه به سمت صفحه دارای بار مثبت رها شود که این الکترون‌ها در آنجا تبدیل به سیگنال می‌شوند. حرکت پرتو بر روی نمونه، مجموعه‌ای از سیگنال‌ها را فراهم می‌کند که بر این اساس میکروسکوپ می‌تواند تصویری از سطح نمونه را بر صفحه کامپیوتر نمایش دهد. SEM، اطلاعات زیر را در خصوص نمونه در اختیار می‌گذارد:
-توپوگرافی نمونه: خصوصیات سطوح
-مورفولوژی: شکل، اندازه و نحوه قرارگیری ذرات در سطح جسم
-ترکیب: اجزایی که نمونه را می‌سازند
کارگاه دوم نیز با موضوع «معرفی میکروسکوپ پروبی روبشی SPM-» با حضور بیش از ۳۰ شرکت‌کننده توسط مهندس میرحسینی برگزار و مواردی چون بررسی اثرهای ناخواسه تصویری در میکروسکوپ‌های نیروی اتمی، انواع اثرهای ناخواسته، اثرهای ناخواسته ناشی از پروب، اثرهای ناخواسته تصویری ناشی از روبشگرها، اثرهای ناخواسته ناشی از منابع دیگر و شناسایی اثرهای ناخواسته برای حاضران تشریح شد.
میکروسکوپ پروبی روبشی(SPM= scanning probe microscopy) مجموعه‌ای از تکنیک‌هایی است که سطح ماده را با قدرت تفکیک بالا، در محدوده نانومتر و حتی آنگستروم بررسی کرده و تصاویری از یک خاصیت فیزیکی یا شیمیایی یا مکانیکی سطح و یا توپوگرافی آن ارائه می‌دهد. علاوه بر این، در این میکروسکوپ‌ها امکان جمع آوری اطلاعاتی غیر از وضعیت سطح ماده نیز وجود دارد.
میکروسکوپ پروبی روبشی، ابزاری کلیدی برای ترسیم توپوگرافی (پستی و بلندی‌های) سطوح و نمایاندن تغییرات خواص فیزیکی و شیمیایی ساختارهایی نظیر ساختارهای مولکولی، در بازه مقیاسی از صدها میکرومتر تا محدوده نانومتر، است. ساده‌ترین نقشه‌ای که میکروسکوپ پروبی روبشی ایجاد می‌کنند، همین نقشه توپوگرافی سطح است.
علاوه بر این نقشه‌های دیگری هم قابل دستیابی است که مناطقی از سطح را که بصورت فیزیکی یا شیمیایی از سایر نقاط متمایز هستند، نشان داده و اطلاعاتی از خواص الکتریکی، مغناطیسی، نوری، مکانیکی و غیره ارائه می‌دهند.
همجنین کانون پنت ایران نیز در دومین روز نهمین جشنواره فناوری‌نانو به منظور افزایش آگاهی محققان، دانشجویان، اساتید دانشگاه‌ها و شرکت‌ها، در زمینه مالکیت فکری، اقدام به برگزاری کارگاه آموزشی با عنوان ثبت علائم‌تجاری (برند) نمود. سرفصل‌های ارائه شده در این کارگاه شامل موارد ذیل بوده است.
• کلیات حقوق مالکیت فکری و مصادیق آن
• تعریف علامت تجاری از دید سازمان WIPO و قانون ثبت علامت تجاری ایران
• انواع علامت تجاری به همراه مثال
• نکات کلیدی در انتخاب و خلق علامت تجاری
• روند ثبت علامت تجاری در داخل کشور
• موارد عدم ثبت علامت تجاری در ایران
• روند ثبت علامت تجاری در خارج از کشور از طریق سیستم مادرید
• مثال‌هایی از موفقیت‌ها و شکست‌ها در ثبت علائم تجاری
• مثال‌هایی از پرونده‌های نقض علائم تجاری در دادگاه‌های ایران
