دستگاه تست و عیب‌یابی اتوماتیک مکانیزم قفل درب جانبی دنا پلاس

یکی از طرح‌های موفق عرضه شده شبکه تبادل فناوری‌نانو در سیزدهمین نمایشگاه فناوری‌نانو، دستگاه تست و عیب‌یابی اتوماتیک مکانیزم قفل درب جانبی دنا پلاس است که توسط شرکت بهینه‌سازان فناوران صعنت دیلم ساخته شده است. گروه صنعتی برنز متقاضی استفاده از این فناوری است. برای بازدید از طرح‌های شبکه تبادل به سالن خلیج فارس مراجعه کنید.

این دستگاه به منظور تست و عیب‌یابی اتوماتیک مکانیزم قفل درب جانبی دنا پلاس طراحی و ساخته شده است. اندازه‌گیری و نمایش مقدار کورس حرکتی و نیروی باز کردن درب با کابل‌های داخلی و خارجی با قابلیت تعیین مقدار کورس و نیروی مورد تایید به همراه تلرانس‌های تعریف شده برای هر کدام از قفل‌های جانبی خودرو از ویژگی‌های این محصول است. تست مکانیزم‌های عملکرد اهرم مغزی سوییچ، قفل کودک و تمامی عملکردهای قفل الکترونیک به صورت بسیار سریع و برای دو قفل به صورت همزمان انجام می‌گیرد.

از جمله مزیت‌های این فناوری می‌توان به موارد ذیل اشاره کرد:

*تست قفل درب‌های جانبی و صندوق عقب خودرو

*منطبق با استاندارد شرکت طراحی مهندسی و تامین قطعات ایران (ساپکو)

* محاسبه کورس حرکتی و نیروی باز کردن درب توسط اهرم دستگیره

*تست عملکرد مکانیزم‌های قفل برقی و درب در حالت درب باز، نیمه باز، بسته و ثبت هر حالت در خروجی آماری

*بررسی تست باز شدن قفل با کابل‌های داخلی و خارجی

*امکان ورود اطلاعات قطعات

*گزارش آماری دقیق شامل تاریخ و زمان تولید، شماره اپراتور، تعداد قطعات تولید شده، تعداد قطعات مورد تایید و مردودی