اندازه‌گیری خستگی در نوک AFM در حین کار

اگر شما سعی دارید خطوطی را در یک سطح با استفاده از یک خط‌کش اندازه
بگیرید اما این خط‌کش در حین کار از بین می‌روند، شما باید بدانید که باید
با چه سرعتی و چه حدی فرآیند از بین رفتن خط‌کش انجام می‌گیرد. این مسئله
برای محققانی که سعی در تولید تصاویر از نانومواد دارند، یک چالش محسوب می‌شود.
تصویر گرفتن در یک زمان بسیار کوتاه، غیر ممکن است، به‌همین دلیل محققان از
میکروسکوپ AFM استفاده می‌کنند. مکانیسم این دستگاه به این شکل است که یک
پیمایشگر سوزنی شکل روی سطح حرکت کرده و به‌دلیل وجود برآمدگی و فرورفتگی
در سطح، این سوزن بالا و پایین می‌شود. با ثبت حرکت این سوزن می‌توان از
سطح تصویر گرفت. این دستگاه به‌طور وسیعی در اندازه‌گیری مساحت و اندازه
نانوساختارهای مورد استفاده قرار می‌گیرد. اما مشکل پیش رو آن است که نوک
میکروسکوپ بسیار کوچک است و دچار خستگی می شود.

تاثیر این روش بسیار قابل توجه است. در دنیا هزاران میکروسکوپ AFM وجود
دارد که محققان از آن استفاده می‌کنند. این روش به آنها کمک می‌کند تا
کیفیت کار آن بهبود یافته که در نهایت منجر به افزایش اثربخشی این دستگاه
می‌شود. همچنین این روش موجب می‌شود توسعه نوک‌های جدید، سریع‌تر و ساده‌تر
انجام شود.

این روش که به روش رزونانس تماسی میکروسکوپ AFM موسوم است در نشریه Small
به چاپ رسیده است.