پایگاه خبری فناوری نانو ایرانآرشیو اخبار و مطالب - صفحه 24 از 74 - پایگاه خبری فناوری نانو ایران

ISO اخیراً استاندارد جدیدی برای تعیین مشخصات نانومواد ارائه کرده که در آن فهرستی از روش‌های مورد تأیید این سازمان برای مشخصه‌یابی نانومواد ارائه شده‌است. همچنین فهرست روش‌هایی که مورد تایید این سازمان نیست نیز در این استاندارد آمده است.

یک تیم تحقیقاتی با رهبری NIST، آشکارساز استانداردی ساختند که می‌تواند فوتون‌های منفرد را اندازه‌گیری کند. این آشکارساز برای صنعت مخابرات قابل استفاده است.

دولت انگلستان با اعطاء حمایت مالی به آزمایشگاه ملی فیزیک (NPL)، شرکت آکسفورد اینسترومنتز و مؤسسه ملی گرافن قصد دارد با استفاده از گرافن، ابزاری برای اندازه‌گیری دقیق مقاومت تولید کند تا در حوزه مترولوژی و صنایع مختلف مورد استفاده قرار گیرد.

انجمن تحقیقات مشترک کمیسیون اروپا که چندی پیش نمونه استانداردی گواهی شده (CRM) تولید کرده بود، با استفاده از روش‌های مختلف نظیر TEM و DLS به دنبال صحه‌گذاری نمونه است. اما این کار با مشکلاتی روبرو شد که در نهایت منجر به اصلاح روش آزمون و تعاریف شد.

ایزو استانداردی برای آماده‌سازی نمونه به منظور مطالعه‌های سم‌شناسی منتشر کرده است. این روش می‌تواند به محققانی که درحوزه ایمنی نانومواد کار می‌کنند، کمک شایانی کند.

موضوع نشست جهانی اخیر وضع قوانین علمی (GSRS)، به استاندارد و اندازه‌گیری در حوزه فناوری‌نانو مربوط بود. در این نشست که در سپتامبر ۲۰۱۶ برگزار شد، به بررسی ترویج، تربیت نیروی انسانی و آموزش مسائل مربوط به این حوزه پرداخته است.

محققان NIST روش استانداردی برای اندازه‌گیری و توالی‌سنجی رشته‌های DNA ارائه کردند. در این روش جفت‌ بازها با باز مکمل موجود روی یک غشاء برهمکنش داده و با دقت ۷۹ تا ۸۶ درصد، توالی‌سنجی انجام می‌شود.

نوزدهمین اجلاس کمیته بین المللی استانداردسازی فناوری نانو (ISO/TC229) از ۱۷ تا ۲۱ آبان ماه ۹۵ در کشور سنگاپور برگزار شد.

اخیرا گزارشی در مورد بازار نانومترولوژی در جهان منتشر شده است که در آن روند توسعه این بازار تا سال ۲۰۲۷ مورد بررسی قرار گرفته است. به نظر می‌رسد طی سال‌های آتی شاهد شکوفایی بازار این حوزه باشیم.