توسعه سیستم اندازه‌گیری نانو برای پیمایش ساختار تراشه‌های مقیاس اتمی

مهندسان مرکز تحقیق مواد پیشرفته، مشغول مطالعه بر روی یک روش اندازه‌گیری در مقیاس نانو می باشند که به آنها اجازه می دهد ساختارهای نیمه‌هادی جدید را در مقیاس اتمی مورد آزمایش قرار دهند، که می تواند راهگشای نسل جدیدی از وسایل الکترونیکی باشد.