اولین جلسه کارگروه دوم (اندازهگیری و تعیین مشخصات) کمیته استانداردسازی فناوری نانو کشور(ISIRI/TC 229) در تاریخ ۸۵/۱۲/۹ با حضور اعضای این کارگروه تشکیل شد. در این جلسه طرحهای ارائه شده از طرف ژاپن و آمریکا در مورد تعیین مشخصات نانولولههای کربنی تک دیواره با روشهای TEM،SEM،UV-Vis، (فتولومینسانس)PL مورد بحث و بررسی تخصصی قرار گرفتند.
اولین جلسه تخصصی کارگروه WG2 کمیته استانداردسازی فناوری نانو تشکیل شد
اولین جلسه کارگروه دوم (اندازهگیری و تعیین مشخصات) کمیته |