دکتر هادی سوالونی استاد دانشکده فیزیک دانشگاه تهران، در پژوهشی به مدلسازی اثر پارامترهای مختلف لایه نشانی در ساختار لایه‌های نازک نیکل تولید شده در دستگاه خلاء، پرداخته است. این نوع لایه‌ها در صنعت اپتیک کاربرد فراوانی دارند.
مدلسازی تنش باقیمانده در لایه‌های نازک نیکل با استفاده از روش (۱+۱) بعدی در دانشگاه تهران
New Page 1
|
فناوری نانو سهم به سزایی در رشد و گسترش روش‌های لایه نشانی و توسعه فناوری لایه نازک داشته است. لایه‌های نازک تحت شرایط انباشت (لایه نشانی) متفاوتی تولید می‌شوند و ازاینرو ساختارهای نانو مقیاس متفاوتی دارند. شناسایی فرایندهای درگیر در رشد ساختارها مختلف و ارزیابی آنها می‌تواند به تولید نمونه‌های مطابق با هدف، کمک شایانی نماید. این امر نیازمند مدلسازی و شبیه سازی فرایندهای مذکور می‌باشد. |
