برگزاری کارگاهی درباره خصوصیتسنجی نانومقیاس الیاف

در دوم جولای سال جاری میلادی کارگاهی یک‌روزه با هدف بررسی چالش‌های موجود در
زمینه تحلیل میکرومقیاس و نانومقیاس الیاف برگزار خواهد شد. روش‌های مورد بررسی، از
تحلیل‌های شیمیایی سطحی پیشرفته که شامل روش‌های SIMS، XPS و SPM هستند، استفاده
می‌کنند.

هم‌اکنون الیاف چالش‌ها و فرصت‌های بزرگی برای فناوری‌های میکرو و نانو ایجاد
کرده‌اند. این چالش‌ها به ساخت الیاف مربوط نیستند بلکه به کنترل و درک رفتار آنها
ارتباط دارند. موضوعاتی که در این کارگاه بررسی می‌شوند عبارتند از: اثرات بنیادی
نقشه‌برداری در SIS و XPS، نانومکانیک AFM، ریزبینی نیروی اصطکاکی، تحلیل چندگانه و
کاربردهای مهم در صنعت.

در این کارگاه محققان پیشرو و تحلیلگران تجربی از صنعت و دانشگاه برای بحث پیرامون
آخرین دستاوردهای خود گرد هم می‌آیند و پیشنهادات و راهکارهای خود برای
اندازه‌گیری‌های قابل‌اعتماد و صحیح را ارائه خواهند کرد.

تعدادی از مهم‌ترین سخنرانان و موضوعات سخنرانی آنها عبارتند از:

• پروفسور کریس کار (Chris Carr) از دانشگاه منچستر، استفاده از تحلیل سطحی برای
تعیین خصوصیات منسوجات فنی

• پروفسور جورج استیلیوس (George Stylios) از دانشگاه هریوت وات در انگلستان، ساخت
نانو فیبرها و ساخت منسوجات فنی: چالش‌های موجود در اندازه‌گیری و تعیین خصوصیات

• پروفسور گراهام لگت (Graham Leggett) از دانشگاه شفیلد، ریزبینی نیروی اصطکاکی و
تحلیل نانویی الیاف

• کریس بیرن (Chris Byrne) از شرکت انگلیسی Mediatex Ltd، منسوجات فنی: مباحث مدرن،
مشکلات اندازه‌گیری و کاربردهای آینده

• دکتر یان فلچر (Ian Fletcher) از Intertek MSG در انگلستان، تحلیل نمونه‌های
الیاف ریل‌لایف (real-life)

• دکتر جین مک‌کان (Jane McCann) از دانشگاه والز در انگلستان، فناوری پوشاک هوشمند

• کریس بوردمن (Chris Boardman) از Unilever در انگلستان، چگونه تحلیل سطحی
می‌تواند به طراحی محصولات قابل شستشو کمک کند.