همانگونه که می‌دانیم چند ثابت جهانی از قبیل سرعت نور، بار الکتریکی الکترون و. . . . وجود دارد و ثابت ساختار ریز (۱۳۷/۱) یکی از آنها بوده و بلکه پررمز و راز‌ترین آنها هم به شمار می‌آید. اندازه‌گیری مقدار دقیق این ثابت‌ها معمولا ً نیازمند تجهیزات پیچیده و شرایط ویژه‌است ؛ اما اخیرا ً جمعی از محققان انگلیسی وپرتقالی برای نخستین بار با استفاده از گرافن و به روشی بسیار ساده و معمولی توانستند مقدار دقیق این ثابت را اندازه‌گیری نمایند.
نخستین روش ساده برای اندازه‌گیری ثابت جهانی ساختار ریز
همانگونه که می‌دانیم چند ثابت جهانی از قبیل سرعت نور، بار الکتریکی الکترون و. . . . وجود دارد و ثابت ساختار ریز (۱۳۷/۱) یکی از آنها بوده و بلکه پررمز و راز‌ترین آنها هم به شمار می‌آید. اندازه‌گیری مقدار دقیق این ثابت‌ها معمولا ً نیازمند تجهیزات پیچیده و شرایط ویژه‌است ؛ اما اخیرا ً جمعی از محققان انگلیسی و پرتقالی برای نخستین بار با استفاده از گرافن و به روشی بسیار ساده و معمولی توانستند مقدار دقیق این ثابت را اندازه‌گیری نمایند.
به این منظور آنها غشاهایی بزرگ و معلق از گرافن ساختند به‌طوریکه عبور نور از آنها را به راحتی و با چشم غیرمسلح بتوان مشاهده نمود. این محققان دریافتند که این غشاها کاملا ً شفاف نبوده و درصد نسبتا ً زیادی (۳/۲ درصد) از نور مرئی را جذب می‌کنند که با تقسیم آن بر عدد پی می‌توان مقدار دقیقی برای ثابت جهانی ساختار ریز یافت.
این محققان یکی از علل اساسی این پدیده را رفتار الکترونهای گرافن می‌دانند که در چنین حالتی مشابه ذرات بدون جرم عمل می‌کنند. به این ترتیب تنها با نگاه کردن به نور عبوری از این غشاهای گرافنی و تعیین درصد شفافیت آنها می‌توان به این ثابت بنیادی دست یافت.
به باور این محققان کاربرد گرافن تنها به این پدیده ختم نمی‌شود و با توجه به قابلیت‌های فوق‌العاده‌ای که این ماده دارد، در آینده‌ای نه چندان دور شاهد پیدایش فناوری‌های گرافنی خواهیم بود.
