گروهی از محققان ژاپنی، روش جدیدی برای ارزیابی ساختار مغناطیسی و الکترونیکی لایههای اتمی زیرسطحی در یک ماده ابداع کردهاند. این روش که «طیفسنجی پراش» نامیده شدهاست، برای اندازهگیری اثرات مغناطیسی در مقیاسنانو و توسعه ضبط مغناطیسی چگالِ «عمودی» بسیار سودمند خواهد بود.

روشی جدید برای اندازهگیری اثرات مغناطیسی در مقیاسنانو
گروهی از محققان ژاپنی، روش جدیدی برای ارزیابی ساختار مغناطیسی و الکترونیکی لایههای اتمی زیرسطحی در یک ماده ابداع کردهاند. این روش که «طیفسنجی پراش» نامیده شدهاست، برای اندازهگیری اثرات مغناطیسی در مقیاس نانو و توسعه ضبط مغناطیسی چگالِ «عمودی» بسیار سودمند خواهد بود. بهزودی در ذخیرهسازی داده به چگالیای بیش از ۱۰۱۲ بیت در هر اینچ مربع نیاز فامیهیکو ماتسوی و همکارانش از مؤسسه علم و فناوری نارا(Nara) و سایر مؤسسات این گروه، از این روش جدید در تحلیل ساختار مغناطیسی یک لایه نازکِ نیکل بر روی هماکنون برای تصویربرداری از ساختار اتمی، چندین روشِ پراش اتمی مورد استفاده هماکنون این محققان به دنبال توسعه روش خود بهمنظور تحلیل سطح ابررساناها نتایج این تحقیق در نشریه.Phys. Rev. Lett به چاپ رسیدهاست.
|