همایش Nano Measure 2010

بنابر اعلام سازمان Agilent Technologies، اولین همایش علمی تعیین مشخصات فناوری‌نانو (Nano Measure 2010)، در روزهای ۳ و ۴ ژوئن سال جاری میلادی در دانشگاه جاجیلونیان شهر کراکوف کشور لهستان برگزار خواهد شد.

در این رویداد دو روزه برخی از دانشمندان مطرح دنیا آخرین یافته‌های خود را در زمینه تحقیقات پیشگام تعیین مشخصات فناوری‌نانو ارائه خواهند کرد.

برنامه کاری همایش Nano Measure 2010 در برگیرنده ۴ جلسه کاربردی محور زیر است:

1. مطالعات علوم زیستی، مواد زیستی و تعیین مشخصات ملکول‌های منفرد در مقیاس نانو؛

2. پلیمرها- ریخت‌شناسی فناوری‌نانو، سنتز کنترل شده و تعیین مشخصات ویژگی‌ها؛

3. ویژگی‌‌های مواد آلی و معدنی نانومکانیکی؛

4. مواد نانومقیاس- تصویربرداری، الکتروشیمی و ویژگی‌های الکتریکی.

Nano Measure 2010 فرصت بسیار مناسبی است تا در چارچوب آن دانشمندان و محققان رشته‌های مختلف، فعالیت‌های خود را در حوزه‌های ذکر شده، تشریح کنند.

کاربران میکروسکوپ‌های نیروی اتمی (AFM)، ابزارهای آزمایش نانومکانیکی و تمام تکنیک‌های و فناوری‌های تعیین مشخصات تکمیلی فناوری‌نانو، می‌توانند چکیده مقالات و پوسترهای خود را به این همایش ارسال کنند.