فیزیکدانان دانشگاه کالیفرنیا در سن دیگو آمریکا موفق شدند روش جدیدی برای میکروسکوپی اشعه ایکس ارائه کنند که با آن میتوان نفوذ بیشتری در مواد داشت و درنهایت میتوان جزئیات بیشتری از ماده را در مقیاس نانومتری بهدست آورد. این روش میتواند برای تحقیق در حوزه فناوری اطلاعات و تولید ادوات ذخیرهسازی اطلاعات کمک شایانی کند.

روش جدید میکروسکوپی اشعه ایکس
فیزیکدانان دانشگاه کالیفرنیا در سن دیگو آمریکا موفق شدند روش جدیدی برای
میکروسکوپی اشعه ایکس ارائه کنند که با آن میتوان نفوذ بیشتری در مواد
داشت و درنهایت میتوان جزئیات بیشتری از ماده را در مقیاس نانومتری بهدست
آورد. این روش میتواند برای تحقیق در حوزه فناوری اطلاعات و تولید ادوات
ذخیرهسازی اطلاعات کمک شایانی کند.
در این روش، تصویر توسط لنز میکروسکوپ گرفته نمیشود بلکه با استفاده از برنامههای
کامپیوتری تصویر ایجاد میشود. در مقالهای که محققان این پروژه در Proceedings of
the National Academy of Sciences به چاپ رساندند، توضیح دادند که برنامه مورد
استفاده آنها قادر است الگوهای پراش ایجاد شده از مواد مورد آزمایش را با استفاده
از الگوریتمهایی تبدیل به تصویر کند. الگ شپیرکو، از محققان این پروژه میگوید،
ریاضیات بهکار رفته در این پروژه بسیار پیچیده است. کاری که ما کردیم این بود که
برای اولین بار دامنههای مغناطیسی را با دقت بالایی به تصویر تبدیل کردیم. به
بیانی دیگر، ما توانستیم با این روش ساختارهای مغناطیسی را در مقیاس نانو و بدون
استفاده از لنز مشاهده کنیم.
اولین کاربرد این روش در توسعه سیستمها و ادوات ذخیره اطلاعات کوچکتر است. اریک
فولرتون، از نویسندگان این مقاله، میگوید این تحقیق به پژوهش در حوزه دیسکهای سخت
کامپیوتری کمک زیادی میکند در این دیسکهای سخت، بیتهای مغناطیسی بهعنوان
اطلاعات روی سطحشان در فضایی به ابعاد ۱۵ نانومترقرار میگیرد. این روش جدید به
دانشمندان کمک میکند تا از این بیتها تصویر بگیرند که این کار میتواند به کاهش
فضای مورد نیاز برای ذخیرهساری اطلاعات کمک شایانی کند.
در این روش نیاز به استفاده از لنز در اطراف نمونه نبوده و همچنین لازم نیست از
تجهیزات جانبی استفاده شود که این موارد باعث میشود اندازهگیریها و کار با نمونه
بسیار ساده شود.
این گروه تحقیقاتی بهجای لنز از برنامههای کامپیوتری استفاده کردهاند. در ناسا
برنامههای کامپیوتری برای شفافتر کردن تصاویر تلسکوپ هابل استفاده میشود
بهصورتیکه انحرافات آیینههای تلسکوپ اصلاح میشود. مشابه این راهبرد در این
پروژه اتخاذ شده است.
محققان برای تست این روش و توانایی آن در به تصویر کشیدن جزئیات، فیلمهایی از جنس
آهن و گادولینیوم ایجاد کردند که در صنعت فناوری اطلاعات بسیار استفاده میشود.
نتایج نشان داد که با این روش میتوان جزئیاتی در مقیاس نانو را بهخوبی مشاهده
کرد، این جزئیات که برای اولین بار به تصویر کشیده شده است، برای تحقیق روی این
فیلم اهمیت زیادی دارد.