محققان سنگاپوری با تغییر طراحی دستگاه AFM موفق به افزایش دامنه پیمایش این میکروسکوپ شدند. برای این کار آنها از یک نوک الماس به طول ۱۰۰ میکرون استفاده کردند.
افزایش دامنه پیمایش AFM
محققان سنگاپوری با تغییر طراحی دستگاه AFM موفق به افزایش دامنه پیمایش این میکروسکوپ شدند. برای این کار آنها از یک نوک الماس به طول ۱۰۰ میکرون استفاده کردند. وجود نقص در سطح به خصوص در ادواتی نظیر دندهها میتواند شیها وانگ از موسسه آاستار در سنگاپور که در مرکز مترولوژی این |
تیم تحقیقاتی وانگ از این سیستم AFM جدید برای اندازهگیری فرورفتگیهای مستطیل شکل روی سیلیکون جامد استفاده میکنند. این جسم که دارای عمق ۱۰ میکرونی است، بهعنوان یک استاندارد مهم مترولوژیکی برای کالیبراسیون دستگاهها استفاده میشود. با استفاده از AFMهای معمولی نمیتوان این ساختار را تصویربرداری کرد. علاوهبراین که AFMهای معمولی مشکل محدودیت حرکتی دارند، طراحی این دستگاهها بهنحوی است که نوک کوتاه آنها در حین حرکت روی این سطح با فرو رفتن در یک شیار، به لبهها شیارها برخورد کرده و میشکنند. برای حل این مشکل محققان یک روش جدید برای رشد ستون نازک و نتایج نشان داد این نوک قادر است سطح را با قدرت تفکیک نتایج این تحقیق در نشریه Measurement Science and |