اخیرا روش جدیدی برای کالیبره کردن AFM ارائه شده است. با این روش می‌توان نیروی جانبی این میکروسکوپ را کالیبره کرد.
روشی برای کالیبره کردن نیروی جانبی AFM
|
اخیرا روش جدیدی برای کالیبره کردن AFM ارائه شده است. با این روش می‌توان نیروی جانبی این میکروسکوپ را کالیبره کرد. پژوهشگران موسسه ملی استاندارد و فناوری روش ساده‌ای برای کالیبره کردن |
|
| طرح شماتیکی که نشاندهنده جذب کل نور بوسیله آرایهای از دیسکهای گرافنی است. |
|
این روش جدید که به کله چکشی (HH) موسوم است، مبتنی بر قرار گرفتن دقیق بازوهای یک تیرک تی شکل (T) است که روی یک سطح در محل مناسب قرار گرفته است. گشتاوری روی بازوی تیرک در نقاط مختلف اعمال می‌شود که برای ایجاد این گشتاور فشاری روی تیرک که خود روی کره‌ای قرار گرفته است اعمال می‌گردد. برای کالیبره کردن حساسیت و استخراج نیروی اصطکاک مربوط به سیگنال‌های جانبی که در طول آزمون ایجاد می‌شود، از نسبت تغییرات سیگنال نرمال (عمودی) به سیگنال افقی استفاده می‌شود. این روش جدید که کالیبره کننده نیروی جانبی دیامغناطیس (D-LFC) نام گرفته است در دانشگاه براون ابداع شده است، این روش به تعداد بسیار کمی اندازه‌گیری مستقل نیاز دارد. تیرک AFM روی یک سطح از جنس گرافیت فشار وارد می‌کند که این سطح با استفاده میدان مغناطیسی معلق می‌ماند. زمانی که میدان مغناطیسی در AFM به‌صورت افقی به حرکت در می‌آید، گرافیت معلق همانند یک جسم روی فنر ضعیف عمل می‌کند. یک نیروی جانبی به‌وسیله گرافیت به نوک تیرک AFM وارد می‌شود که موجب خم شدن تیرک می‌گردد. این خم شدن موجب تغییر سیگنال جانبی در AFM می‌گردد که از آن می‌توان برای کالیبره کردن مستقیم اصطکاک استفاده کرد. این کالیبره کردن بدون نیاز به اندازه گیری مستقل سیگنال نرمال صورت می‌گیرد. این روش برای بسیاری از شرایط مناسب می‌باشد، دلیل این امر آن است که در این روش پارامترهای کمی دخیل بوده در نتیجه دقت کار بسیار بالا است. اگر نباید تماسی میان نوک و سطح تیرک انجام شود، در این صورت روش HH مناسب‌تر است. محققان معتقداند که از این روش جدید می‌توان برای اندازه‌گیری کمی اصطکاک در مقیاس نانو استفاده کرد. نتایج این تحقیق در قالب مقاله‌ای تحت عنوان Quantitative comparison of two |
