بررسی توزیع فشار در مقیاس نانو با چالش‌هایی همراه است. اخیرا محققان آمریکایی روش جدیدی برای این کار ارائه کرده‌اند در این روش از پتیوکوگرافی پرتوافکنی براگ اشعه ایکس متمرکز شده برای ترسیم نقشه فشار استفاده شده است. یکی از مزایای این روش غیر مخرب بودن آن است به‌طوری که با قدرت تفکیک زیر ۲۰ نانومتر جزئیات نانومقیاس از نمونه ارائه می‌کند.
روش جدیدی برای تصویربرداری نانومقیاس
| بررسی توزیع فشار در مقیاس نانو با چالش‌هایی همراه است. اخیرا محققان آمریکایی روش جدیدی برای این کار ارائه کرده‌اند در این روش از پتیوکوگرافی پرتوافکنی براگ اشعه ایکس متمرکز شده برای ترسیم نقشه فشار استفاده شده است. یکی از مزایای این روش غیر مخرب بودن آن است به‌طوری که با قدرت تفکیک زیر ۲۰ نانومتر جزئیات نانومقیاس از نمونه ارائه می‌کند. پژوهشگران آزمایشگاه ملی آرگونه با همکاری محققان مرکز IBM روش پراش منسجم
|
 |
| با این روش جدید می‌توان کج‌شدگی شبکه را در فیلم‌های نازک تصویربرداری کرد، این کار با قدرت تفکیک جانبی زیر ۲۰ نانومتر با استفاده از اشعه ایکس سخت متمرکز شده انجام می‌شود. این پروژه گامی موثر در مسیر توسعه روش‌های تصویربرداری غیرمخرب اشعه ایکس است. روش‌هایی که برای مطالعه دقیق و نانومقیاس از جزئیات شبکه در مواد واقعی و در شرایط واقعی به‌کار گرفته می‌شود. این روش جدید می‌تواند ابهامات ساختاری را با استفاده از یک دستگاه حل کند اطلاعات به‌دست آمده از این سیستم برای تعیین پروفایل فشار شبکه در لایه‌های نتایج این پژوهش در قالب مقاله‌ای تحت عنوان “Quantitative nanoscale
|
