شرکت آناسیس اینسترومنت با ترکیب AFM-IR و sSNOM موفق به ارائه روش مشخصهیابی جدیدی شدهاست که امکان تصویربرداری نانومقیاس از نمونه را فراهم میکند. این روش کاربردهای متعددی در شیمی، پلیمر، تصویربرداری سلولی، بررسی ساختار ثانوی پروتئینها و مطالعه فیبریلها
ساخت دستگاهی با ترکیب AFM-IR و sSNOM
شرکت آناسیس اینسترومنت (Anasys Instruments) اخیراً محصول جدیدی به بازار عرضه کرده است که هم میتواند طیفسنجی جذب IR در مقیاس نانومتری با کمک AFM-IR را انجام دهد و هم با استفاده از sSNOM میتواند تصویربرداری از ویژگیهای نوری را در ابعاد کمتر از ۲۰ نانومتر انجام دهد.
آناسیس یکی از شرکتهای پیشرو در طیفسنجی مادون قرمز نانومقیاس است. این شرکت اخیراً پلتفورم تصویربرداری و طیفسنجی نانومقیاس موسوم به nanoIR2-s+TM را ارائه داد. nanoIR2-s+TM ترکیبی از دو روش قدرتمند مختلف است: AFM-IR و sSNOM.
AFM-IR یک روش ویژه در اختیار آناسیس است که در آن جذب مادون قرمز نانومقیاس با استفاده از پیمایشگر AFM انجام میشود. در این روش، نوک میکروسکوپ AFM به عنوان شناساگر برای جذب IR به کار گرفته میشود. روش AFM-IR شرکت آناسیس بهصورت رایج در صنعت و دانشگاه برای مطالعه پلیمرهای پیشرفته و نمونههای زیستی به کار گرفته میشود. در این روش، طیف جذب IR با قدرت تفکیک بالا با استفاده از طیفسنج رامان معمولی و مادون قرمز بهصورت مستقیم به دست میآید. این روش کاربردهای متعددی در شیمی، پلیمر، تصویربرداری سلولی، بررسی ساختار ثانوی پروتئینها و مطالعه فیبریلهای منفرد دارد.
sSNOM یک روش بسیار شناخته شدهاست که در آن امکان تصویربرداری نوری در مقیاس زیر ۲۰ نانومتر وجود دارد. اخیراً امکان جفت شدن این روش با طیفسنجی مادون قرمز فراهم شده که با این کار تصویربرداری پیچیده از مواد مختلف نظیر ادوات میکرو و نانوالکترونیک، نانو آنتنها و ساختارهای پلاسمونیک فراهم شدهاست.
کاریگ پارتر، مدیرعامل شرکت آناسیس، میگوید: «ما بسیار خوشحالیم که فناوری nanoIR2-s+TM را عرضه کردهایم. مشتریان ما نیازمند انجام طیفسنجی مادون قرمز با دقت بالایی هستند که قابلیت انطباق با طیفهای FTIR را نیز داشته باشد. با این ابزار میتوان به نیاز مشتریان پاسخ داد.»
برای ساخت این ابزار از چندین پتنت ثبت شده استفاده شدهاست. این روش آنالیز نانوگرمایی و نانومکانیکی که با قابلیتهای میکروسکوپ AFM جفت شده موجب پدیدار شدن ابزار جدیدی شدهاست.