میزگرد بین المللی استانداردسازی نانو با محوریت پیشنهاد ایران برگزار شد

همزمان با برگزاری نمایشگاه Chinano2016، چهارمین میزگرد بین المللی فناوری نانو با همکاری مشترک ستاد توسعه فناوری نانو ایران و مرکز نانوپلیس در شهر سوژوی چین برگزار شد. موضوع این میزگرد، بحث و تبادل نظر در مورد استانداردسازی شاخص های فناوری نانو بود که توسط

این نشست با هدف مطرح کردن مزایای به‌کارگیری ادبیات واحد در حوزه استاندارد شاخص‌های فناوری نانو برگزار شد.   در این زمینه یک استاندارد  توسط ایران پیشنهاد شده  و بعد از چهار سال در کمیته فنی ۲۲۹ ایزو در سال ۲۰۱۵ با شماره استاندارد ISO/TS18110:2015 انتشار یافت.

در این نشست، دکتر علی بیت‌اللهی مدیر کارگروه استاندارد و ایمنی ستاد توسعه فناوری نانو و دکتر علی محمد سلطانی، مدیر دبیرخانه ستاد توسعه فناوری نانو، به سخنرانی پرداختند.

دکتر علی بیت‌اللهی، ضمن بحث در خصوص همگن‌سازی سیاست‌های تایید صلاحیت و برچسب‌گذاری محصولات نانو، به بیان تلاش‌ها و فعالیت‌های صورت گرفته توسط ستاد توسعه فناوری نانو در این حوزه در سال‌های گذشته پرداخت و سیاست‌ها و برنامه‌های انجام شده در خصوص نشان نانونماد و نانومقیاس را ذکر کرد.

دکتر سلطانی نیز با طرح معضلات آمارهای منتشر شده جهانی در خصوص بازار محصولات نانو و دیگر شاخص‌های فناوری نانو، به طرح استاندارد تدوین شده توسط ستاد توسعه فناوری نانو و مزایای بکارگیری این استاندارد پرداخت و پیشنهاد داد تلاش‌های کشورها برای اندازه گیری شاخص‌ها بر اساس تعاریف هماهنگ ادامه پیدا کند.

در این نشست که نمایندگانی از کشورهای ایران، چین، تایوان، تایلند، کانادا و آلمان حضور داشتند، همکاری‌های بین‌المللی در خصوص برچسب‌گذاری و گواهی‌دهی محصولات نانو و همچنین هماهنگی در نظام آماری فناوری نانو مورد بحث و بررسی قرار گرفت.

در پایان شرکت‌کنندگان ضمن استقبال از برگزاری این نشست، خواهان تداوم برگزاری چنین نشست‌هایی جهت توسعه همکاری‌های بین‌المللی در این زمینه‌ها شدند.