پژوهشگران دانشگاه واشنگتن به سرپرستی پروفسور لیه وای لین، موفق به توسعه روشی نوین در زمینه الگویسازی با وضوح بالا برای مواد محلولپایه شدند که میتواند تحولی در ساخت نمایشگرهای میکرو-الایدی ایجاد کند. این روش که بر پایه فوتولیتوگرافی و روش برداشتن خشک (dry mechanical lift-off) استوار است، امکان الگویسازی دقیق نقاط کوانتومی (QDs) را فراهم میکند و در تازهترین مقالهای که در نشریه Light: Advanced Manufacturing منتشر شده، به صورت موفقیتآمیزی در رنگدهی و ایجاد تصاویر با وضوح بالا به کار گرفته شده است.
