دانشگاه Lehigh در آمریکا تنها مرکزی است که دو دستگاه قدرتمند برای تشخیص اتم‌های سطحی یک ماده جامد را در اختیار دارد. این دو دستگاه HS-LEIS و HR_XPS هستند. با استفاده از این دو دستگاه هم می‌توان هویت اتم‌های سطحی یک ماده را تشخیص داد و هم ماهیت شیمیایی آنها (همانند حالت اکسیداسیون) را تعیین کرد.
تشخیص اتم‌های سطحی یک ماده جامد
|
پروفسور هیده برونگرسما از کالج سلطنتی لندن که حساس‌ترین طیف‌سنج دنیا را برای تشخیص اتم‌ها در سطح یک ماده تولید کرده است، اخیراً برای ایراد یک سخنرانی به دانشگاه Lehigh آمریکا دعوت شده است. این دانشگاه تنها مرکز در آمریکاست که این طیف‌سنج پیشرفته را دارد. برونگرسما که قبلا با دانشگاه آیندهوون در هلند همکاری داشته است، مخترع |
|
| برونگرسما می‌گوید: « توانایی کنترل ویژگی‌های سطحی یک ماده در مقیاس اتمی اهمیت بسیار بالایی دارد، چه بخواهید یک کاتالیزور جدید تولید کنید، یا یک ترانزیستور کوچک‌تر بسازید و یا ویژگی‌های چسبندگی سطح یک پلیمر را بهبود دهید. برای انجام این کار باید بتوانید ترکیب سطح ماده را با همان دقت شناسایی کنید». یک زوج قدرتمند دانشگاه Lehigh همچنین یکی از قدرتمندترین دستگاه‌های XPS با تفکیک‌پذیری در روش HS-LEIS از شلیک یون‌های یک گاز بی‌اثر همچون هلیوم یا نئون به سطح حساسیت این دستگاه جدید ۳۰۰۰ برابر بیشتر از دستگاه‌های قبلی بوده و امکان
|
