واکنش جایگزینی گالوانیک میان نانوسیم نقره و محلول کلوئیدی طلا برای تولید ساختارهای توخالی استفاده میشود. اما مکانیسم این واکنش برای محققان پوشیده است. اخیرا روشی برای این کار ارائه شده است. در این روش از میکروسکوپ اشعه ایکس عبوری فلوسل درجا (TXM) استفاده شده است.

مشاهده تبدیل نانوسیمهای نقره به نانولولههای طلا با TXM
واکنش جایگزینی گالوانیک میان نانوسیم نقره و محلول کلوئیدی طلا برای تولید
ساختارهای توخالی استفاده میشود. اما مکانیسم این واکنش برای محققان
پوشیده است. اخیرا روشی برای این کار ارائه شده است. در این روش از
میکروسکوپ اشعه ایکس عبوری فلوسل درجا (TXM) استفاده شده است.
پژوهشگران مرکز نانوفتونیک و اتحادیه علم پرتو ایکس موفق شدند روش جدیدی
برای رصد واکنش جایگزینی گالوانیک میان نانوسیم نقره و محلول کلوئیدی طلا
ارائه کنند. برای این کار از میکروسکوپ اشعه ایکس عبوری فلوسل درجا (TXM)
استفاده شده است. با استفاده از این روش میتوان نگاهی به تغییرات
مورفولوژیکی نانوسیم نقره انداخت که درون یک نانولولهای از جنس طلا قرار
دارد.
استفاده از واکنش جانشینی گالوانیک میان نانوذرات فلزی و یک پیش ماده اکسید کننده،
راهبرد بسیار خوبی جهت سنتز نانوساختارهای توخالی است. این مواد سنتز شده دارای
ویژگیهایی هستند که رسیدن به آن با مواد دیگر امکان پذیر نیست. برای این که بتوان
واکنش جایگزینی گالوانیک در مقیاس نانو را بهنحوی کنترل کرد که با آن ساختارهای تو
خالی ایجاد نمود، باید مکانیسم آن را بهدقت شناخت. اما این امر تاکنون تحقق نیافته
است زیرا روشی که بتوان مستقیم مورفولوژی این ساختارها را در حالت محلول مطالعه کرد
وجود نداشته است. اما این روش جدید مشکل را حل کرده است.
در این روش از نفوذ اشعه ایکس با قدرت بالا که توانایی نفوذ درون محلول را دارد
استفاده شده است. همچنین از فلوسل نیز بهعنوان ابزار جانبی استفاده شده که در
نهایت موجب رصد واکنش میان نانوسیم نقره و HAuCl4 شده است. این پژوهش بسیار جالب
توجه است زیرا با استفاده از آن میتوان تغییرات مورفولوژیکی را با وضوح بالا
مشاهده کرد.
نتایج این تحقیق در نشریه Nano Letter به چاپ رسیده است.